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化学所在提高n-型有机场效应晶体管稳定性研究方面取得新进展
2009-05-26 | 编辑:lidan | 【 】【打印】【关闭
 

在国家自然科学基金委、科技部和中科院的大力支持下,化学所有机固体院重点实验室的研究人员在提高n-型有机场效应晶体管稳定性的研究方面取得新进展,有关研究成果发表在近期的Adv. Mater. (2009, 21, 16311635)上。

近年来,有机场效应晶体管由于在大面积、柔性化和低成本有源矩阵显示、射频标签等方面的潜在应用前景而备受学术界和工业界的关注,并取得了长足的发展。相比单极性有机电路,由p-型 和n-型 有机场效应晶体管组成的双极性互补电路优势更明显,但目前n-型有机场效应晶体管由于较低的器件性能和很差的稳定性,使其发展明显滞后于p-型有机场效应晶体管。因此,如何提高n-型有机场效应晶体管的器件性能和环境稳定性,从而更好的与高性能稳定的p-型有机场效应晶体管相匹配,已成为当前的研究热点。

本研究通过硫的上电极修饰,显著地提高了苝酰亚胺n-器件的性能,此方法具有受空气氧化影响小,修饰效应非暂时,原料便宜且修饰方法简单等特点。另外器件的稳定性也与制备工艺直接相关,研究人员通过改进蒸镀条件,使无强吸电子基团的苝酰亚胺类器件的稳定性得到提高,从而使得此类n-器件可以长期在空气中工作,并为其它苝酰亚胺类器件的稳定性的提高提供了一种方法。

 

 

 

苝酰亚胺为半导体材料、硫修饰的金为电极制备的n-型高性能有机场效应晶体管

 

                       

 

有机固体院重点实验室

 2009526

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